E+H音叉物位計FTM51-2GG2L2A32AA技術參數(shù)
物位測量通常指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。物位測量通常指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。物位測量通常指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫做物位計。
對于常用的圓錐形喇叭天線來說，微波的頻率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在實際使用中這是十分重要的，低頻微波物位計有較寬的波束，如果安裝不得當，將會收到內部結構產(chǎn)生的較多的虛假回波，例如：采用4"喇叭天線的26GHz雷達的典型波束角為8°，而5.8GHz 的典型波束角為17°。并且，微波的頻率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于開孔安裝。還沒有頻率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷達)物位計。
而X波段雷達由于沒有明顯的應用特點，而在各大物位廠商的雷大物位技術發(fā)展中趨于被淘汰?，F(xiàn)今物位測量領域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內的充滿粉塵和擾動的加料狀態(tài)下的料倉。相關技術的儀表例如電容或導波雷達TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經(jīng)常有埋錘的問題，需要經(jīng)常維修，大多數(shù)其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統(tǒng)的能力。 高頻的調頻雷達技術尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!
微波物位計使用的微波頻率有三個頻段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。制造商根據(jù)自己的技術及國家批準的頻率來設計產(chǎn)品。
物位測量中的微波一般是定向發(fā)射的，通常用波束角來定量表示微波發(fā)射和接收的方向性。波束角和天線類型有關，也和使用的微波頻率(波長)有關。
現(xiàn)今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續(xù)波微波物位計發(fā)射和接受信號是同時的，相同時間內發(fā)射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由于技術限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。現(xiàn)今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續(xù)波微波物位計發(fā)射和接受信號是同時的，相同時間內發(fā)射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由于技術限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。
ATOS比例閥DLHZO-T-040-L7131
E+H音叉物位計FTM51-2GG2L2A32AA
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